1. 인장 시험기의 힘 값은 로드셀, 증폭기 및 데이터 처리 시스템을 통해 측정됩니다. 작은 변형을 전제로 탄성 요소의 특정 지점에서의 변형률 ε은 탄성 요소에 가해지는 힘에 비례하고 탄성 변형에도 비례한다는 것이 재료 역학을 통해 알려져 있습니다. S-형 시험기 센서를 예로 들면, 센서에 인장력 P를 가했을 때, 탄성체 표면에 스트레인 게이지를 부착하고, 탄성체의 스트레인은 외력 P의 크기에 비례하므로 스트레인 게이지를 측정회로에 연결하여 출력전압을 측정한 후 힘을 측정할 수 있다.
2. 변형량은 변형측정장치를 통해 측정하는데, 이는 실험 중 시료의 변형량을 측정하는데 사용됩니다. 장치에는 일련의 전송 메커니즘을 통해 측정 장치 상단에 설치된 광전 인코더에 연결된 두 개의 척이 있습니다. 두 척 사이의 거리가 변경되면 광전 인코더의 샤프트가 회전하여 광전 인코더가 펄스 신호를 출력합니다. 이 신호는 프로세서에 의해 처리되고 샘플의 변형량을 얻을 수 있습니다.
3. 빔 변위를 측정하는 원리는 변형 측정과 거의 동일합니다. 광전 인코더의 출력 펄스 수를 측정하여 빔의 변위를 얻습니다.
